表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀符合ENIG/ENEPIG要求，符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

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產(chǎn)品詳情

2、表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì)，呈現(xiàn)全高清廣角視野，讓樣品觀察geng quan mian ；微米別分辨率，較好的man zu chao微產(chǎn)品的測(cè)試，讓測(cè)試geng guang fan geng 便捷。

3、優(yōu)質(zhì)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，信號(hào)qiang度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量。
4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管，較好的man zu 用戶不同測(cè)試需求。

· 表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀測(cè)量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層；
· 分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

· 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀

優(yōu)勢(shì)：

1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

2、0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

3、高精度移動(dòng)平臺(tái)可jingzhun定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

4、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

5、定位激光jingzhun定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

6、鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

7、高分辨率探頭使分析結(jié)果加

8、良好的射線屏蔽作用

9、測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

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表面無(wú)損厚度測(cè)厚儀符合ENIG/ENEPIG要求，符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

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